美國APT開爾文探針：適用于四線法測試 ，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響 ，保證小電阻的測試準(zhǔn)確性。另外 ，一些高頻測試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個(gè)。

美國GGB探針： ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。 該探針可以選擇表面鍍鎳， 如果選擇 鍍鎳則型號后面增加 “NP”。

QRUI-5系列探針臺：研發(fā)的一款在特殊環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號的設(shè)備。可以實(shí)現(xiàn)器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試 ，光電測試等。通過液氮或者壓縮機(jī)制冷 ，可以在防輻射屏內(nèi)營造一個(gè)穩(wěn)定的測試環(huán)境。

QRUI-1A系列探針臺：是一款在非真空條件下實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境的測試探針臺。該產(chǎn)品采用氣冷制冷 ，自動(dòng)控溫 ，設(shè)備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室 ，一方面可以屏蔽無線電磁干擾 ，另外一方面也可以保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜。該產(chǎn)品多數(shù)用于相關(guān)單位實(shí)驗(yàn)室。

QRUI-3 系列探針臺：一款高配置綜合型手動(dòng)測試探針臺, 該系列探針臺設(shè)備配置豐富 ，基本可以滿足一般實(shí)驗(yàn)室的全部測試要求。